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封裝技術開發(fā)要點：不同模型下的瞬態(tài)響應分析
在封裝開發(fā)中，如何正確使用數據表的熱特性參數以做出設計決策經常存在一定的誤區(qū)。之前我們討論了穩(wěn)態(tài)數據和瞬態(tài)數據的解讀與多輸入瞬態(tài)模型，今天我們將繼續(xù)分析各種模型下的瞬態(tài)響應。
2023-04-26
封裝技術 瞬態(tài)響應
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R&S聯合六幺四推出頻域參數測試方案
目前400G/800G光模塊或元器件、光子集成芯片和器件等高性能光電元器件在現代超大容量光纖骨干網絡、云計算數據中心、高速移動通信系統等領域中發(fā)揮著不可替代的作用，其帶寬、幅度響應、相位響應等頻率響應參數決定了整個設施系統的通信容量上限，而帶寬發(fā)展的最新趨勢正在從67 GHz向110 GHz演進。
2023-04-23
R&S 頻域參數 測試
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ADALM2000實驗：測量揚聲器阻抗曲線
動態(tài)揚聲器的主要電氣特性是電阻抗，它與頻率具有函數關系。通過繪圖可以將其可視化，該圖稱為阻抗曲線。本實驗活動的目的是測量永磁揚聲器的阻抗曲線和諧振頻率。
2023-04-21
測試測量 揚聲器 阻抗曲線
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使用分立半導體器件的熱管理設計
有幾種方法可有效改善當今分立半導體在設計時遇到的高溫問題。仿真技術對于衡量各種方法的工作情況至關重要。
2023-04-20
分立半導體器件 熱管理
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E-RSSI技術助力更精確的短距離測距應用
RSSI是Received Signal Strength Indicator（接收信號強度指示器）的縮寫，用于測量接收到的信號強度。在低功耗藍牙設備中，RSSI也具有重要的作用。
2023-04-19
E-RSSI技術 短距離測距應用
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如何優(yōu)化MCU SPI驅動程序以實現高ADC吞吐速率
隨著技術的進步，低功耗物聯網(IoT)和邊緣/云計算需要更精確的數據傳輸。圖1展示的無線監(jiān)測系統是一個帶有24位模數轉換器(ADC)的高精度數據采集系統。在此我們通常會遇到這樣一個問題，即微控制單元(MCU)能否為數據轉換器提供高速的串行接口。
2023-04-19
MCU ADC 吞吐速率
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【泰享實測之水哥秘笈】： 電源測試的人間煙火，深入淺出談環(huán)路響應測試！
當你發(fā)現信號完整性不好時， 會不會是電源完整性帶來的問題？當你發(fā)現時鐘抖動很大時，會不會是電源質量不好？當你發(fā)現系統有誤碼時，會不會是電源的控制環(huán)路不穩(wěn)定？電源完整性(PI)和信號完整性(SI)是相互影響的，信號質量不好，大概率電源不好，電源質量不好，信號質量肯定不好。
2023-04-14
泰享實測 電源測試 環(huán)路響應測試
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功率分析儀如何消除接線方式引入的誤差？
為實現測量數據的準確性，除了選擇高精度的測量儀器外，還必須使用和負載匹配的接線方式，使能對應的補償算法對電壓值或電流值進行修正，補償接線引起的儀器損耗，實現高精度功率測量。
2023-04-14
功率分析儀 消除誤差
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別再只盯著光刻機了！自動化測試對于芯片制造同樣重要
行業(yè)調研數據顯示，芯片行業(yè)的產值和營收一直在不斷提高，同時其地位受到大眾的關注。光刻機在芯片領域當然獨占鰲頭，但一顆芯片的成功不只取決于光刻部分，測試對芯片的質量更有不容忽視的意義。
2023-04-12
光刻機 自動化測試 芯片制造
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